JENOPTIK光學(xué)3D檢測(cè)系統(tǒng)特點(diǎn)：
1.通過(guò)表面三維數(shù)據(jù)采集進(jìn)行全面的質(zhì)量管控2.直接與CAD數(shù)模進(jìn)行公稱值-測(cè)量值比對(duì)
3.簡(jiǎn)便確定尺寸及形位公差
4.快速定位錯(cuò)誤來(lái)源，如：缺料少料、扭曲變形、凹陷等
5.在生產(chǎn)打樣階段加速循環(huán)往復(fù)的模具優(yōu)化過(guò)程
6.簡(jiǎn)化重復(fù)測(cè)量及模具重新審核時(shí)必須進(jìn)行的檢測(cè)過(guò)程
7.工業(yè)三維掃描技術(shù)
8.簡(jiǎn)單的全自動(dòng)掃描檢測(cè)過(guò)程，無(wú)需手動(dòng)翻面
9.通過(guò)獨(dú)有的運(yùn)用三相機(jī)進(jìn)行掃描和配備小范圍測(cè)量視場(chǎng)獲10.得高精度和數(shù)據(jù)分辨率
11.獲得專利的拍照測(cè)量多圖掃描技術(shù)
12.使用第三相機(jī)參與掃描過(guò)程，無(wú)需使用靶點(diǎn)標(biāo)記
13.裝夾工件時(shí)無(wú)需預(yù)先對(duì)齊
對(duì)形狀復(fù)雜的塑料零件和混合
材料零件進(jìn)行高精度的三維掃描
1.通過(guò)使用立體相機(jī)保證高性能的條紋投影拍照
2.使用不同大小的測(cè)量視場(chǎng)，只需要更換鏡頭組件，操作方便易學(xué)
3.物點(diǎn)分辨率小至 5 μm，尤其適合易碎的沖壓邊緣處及微小細(xì)節(jié)檢測(cè)的數(shù)據(jù)采集場(chǎng)景
4.重復(fù)測(cè)量精度可達(dá) 1 μm
5.可追溯的測(cè)量精度，根據(jù)VDI 2634, 第3部分
6.操作簡(jiǎn)便的校準(zhǔn)、長(zhǎng)期有效的校準(zhǔn)
僅需幾次點(diǎn)擊，即可實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單快捷的全自動(dòng)化檢測(cè)
1.最多可以使用4個(gè)機(jī)動(dòng)軸，以此來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)量所需的全部拍照角度的靈活控制
2.全自動(dòng)化掃描和檢測(cè)過(guò)程
3.使用馬達(dá)控制的參考翻轉(zhuǎn)臺(tái)，無(wú)需手動(dòng)反轉(zhuǎn)工件就能實(shí)現(xiàn)完整的全景掃描
4.使用模塊化的夾具系統(tǒng)將測(cè)量工件固定在測(cè)量系統(tǒng)中適當(dāng)?shù)奈恢蒙?/span>
5.對(duì)多個(gè)工件（包括連續(xù)測(cè)量）進(jìn)行自動(dòng)化評(píng)價(jià)
6.通過(guò)集成一個(gè)線性機(jī)動(dòng)軸來(lái)拓展測(cè)量的體積大小
可靈活地對(duì)三維掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行評(píng)價(jià)
1.對(duì)三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)和多邊形模型（STL）進(jìn)行評(píng)價(jià)
2.掃描數(shù)據(jù)可直接與CAD數(shù)據(jù)或參考掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)
3.在三維立體模型上或二維截面中對(duì)所有類型的尺寸進(jìn)行標(biāo)注
4.形位公差的確定（GPS, DIN ISO/ASME）
5.靈活的對(duì)齊方式 （擬合對(duì)齊、3-2-1對(duì)齊、RPS對(duì)齊、基6.于特征的對(duì)齊、基于幾何元素的逐級(jí)對(duì)齊等）
7.統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制 (SPC)
8.輸出報(bào)告以及帶有例如掃碼槍信息、模具信息的多種測(cè)量結(jié)果
9.自動(dòng)化過(guò)程中可靈活選擇第三方三維軟件進(jìn)行評(píng)價(jià)(Geomagic CONTROL X, Polyworks | Inspector?, ect.)
10.逆向工程
